您好,欢迎来到测品娱乐。
搜索
您的当前位置:首页一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪[发明专利]

一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪[发明专利]

来源:测品娱乐
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪专利类型:发明专利

发明人:相里斌,杜述松,才啟胜申请号:CN201410060561.0申请日:20140221公开号:CN103868596A公开日:20140618

摘要:本发明公开了一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪,其中,所述方法包括:复合光经分束器后一部分被反射得到反射光,另一部分被透射得到透射光;反射光经反射镜组以及闪耀光栅组后再次经分束器反射到达成像镜,透射光沿着与反射光相反的光路经反射镜组以及闪耀光栅组后到达成像镜,其中,闪耀光栅组包括平行设置的第一闪耀光栅和第二闪耀光栅,入射闪耀光栅组的复合光被衍射成多束相互平行的出射光,且多束出射光与入射光平行;成像镜上得到具有横向剪切量的干涉光,从而在探测器得到干涉信息。加入一对平行的闪耀光栅实现外差的特性,实现采样点数减少以及信噪比提高。

申请人:中国科学院光电研究院

地址:100080 北京市海淀区中关村东路95号

国籍:CN

代理机构:北京凯特来知识产权代理有限公司

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容

Copyright © 2019- cepb.cn 版权所有 湘ICP备2022005869号-7

违法及侵权请联系:TEL:199 18 7713 E-MAIL:2724546146@qq.com

本站由北京市万商天勤律师事务所王兴未律师提供法律服务