t1-α/2(n-1)} 22{>1(n-1)} 2{<2(n-1)} 检验 u未知 2≥22= 20 20<22≠ 20 202=n1s 2220{</2(n-1)}或 2{>2(n-1)} 21/222、有关比例p的假设检验 u=xpp1p/n近似服从N(0,1)
23、方差分析中的ST、SA、Se、fT、fA、fe、VA、Ve: ST=i1j1rrmT2 yijy=yni1j12rm2ij
自由度:fT=n-1=rm-1
22TTiSA=myiy=ni1i1m2r 自由度:fA=r-1
Se=ST-SA
VA=SA/fA,Ve=Se/fe,F= VA/Ve 24、相关系数:r=
LxyLxxLyy
自由度:fe=fT-fA=r(m-1)
LxyxixyiyxiyiTxTy/n
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LxxxixLyyixyyy222Tx2/n Ty2/n
2其中Tx=xi,Ty=yi 拒绝域为:W={|r|>r1/2n2} 25、一元线性回归方程:
ˆiabxi yb=Lxy/Lxx,a=ybx
26、回归方程的显著性检验(方差分析):
总离差平方和ST、回归平方和SR、残差平方和SE及其自由度 ST=Lyy,SR=bLxy,SE=ST-SR fT=n-1,fR=1,fE=fT-fR=n-2,F=27、利用回归方程进行预测:
ˆ0) ˆ0abx0可以给出1-的y的预测区间(yˆ0,yyˆt/Lxx 1/2n211/nx0xSR/fR SE/fE228、一般的正交表为Ln(qp)
n=qk,k=2,3,4,…,p=(n-1)/(q-1)
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接收概率
29、超几何分布计算法:此公式用于有限总体计件抽检时。
NpNNpAdnd L(p)=Nd0n二项分布计算法:此公式用于无限总体计件抽检时。
nddL(p)= p1pnd0dA泊松分布计算法:此公式用于计点抽检时。 L(p)=d0Anpdenpe2.71828
d!30、计数挑选型抽样平均检验总数(ATI),记作I
I =nL(p)+N[1-L(p)]
31、计数挑选型抽样平均检出质量(AOQ)
AOQpLp
32、双侧公差过程能力指数:
CpTTLTu 6633、单侧公差过程能力指数:
CpUTuXTU 3CpLTLXTL 334、有偏移情况的过程能力指数:
CpK1KCp1KT 6 其中K=
2 T35、可靠度函数、累积故障(失效)分布函数
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R(t)+F(t)=1 36、故障密度函数: f(t)=
tdFt或Ftfudu或Rtfudu 0tdt37、可靠度: R(t)=
N0rt N038、故障(失效)率:
trt Nstt139、平均失效(故障)前时间(MTTF):MTTF=
N0ti1N0i
当产品的寿命服从指数分布时,MTTF=0et40、平均故障间隔时间(MTBF)
1可修复产品,MTBF=
N01
ti1N0i=
T N0完全修复的产品,MTBF= MTTF=0Rtdt 41、平均修复时间(MTTR) MTTR=i
i1Ntn42、西格码水平Z: Z=
TUTL 243、百万机会缺陷数DPMO:
总的缺陷数106DPMO=
产品数机会数
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