芯片测试机

（12）实用新型专利

（21）申请号 CN201220733132.1 （22）申请日 2012.12.27

（71）申请人 标准科技股份有限公司

地址 中国新竹市

（10）申请公布号 CN203069739U

（43）申请公布日 2013.07.17

（72）发明人 陈石矶

（74）专利代理机构 中科专利商标代理有限责任公司

代理人 梁爱荣

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

芯片测试机

（57）摘要

本实用新型是芯片测试机，包括：多个托

盘，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面；多个放置槽，形成于每该托盘的上表面，并于每该放置槽内具有一贯穿该托盘的第一测试孔；多个基板，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面，每该基板配置于每该托盘下方，在每该基板上具有多个与该第一测试孔相对应的第二测试孔；一探针座，配置于该基板下方，具有多个测试区，每该测试区中具有多个朝上的探

针，该些探针是相对应于该基板的该第二测试孔；及一检测器，与该探针座电性连接；其中每该托盘之间能相互组合及拆卸，每该基板之间能相互组合及拆卸，该探针座则对应于其中一个该托盘及该基板。本实用新型整体作业时间更加快且连续，减少制程的工时。

法律状态

法律状态公告日

2013-07-17 2013-07-17 2018-02-09

法律状态信息

授权 授权 专利权的终止

法律状态

授权 授权

专利权的终止

权利要求说明书

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说明书

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