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热裂解气相色谱质谱分析装置的校正方法

来源:测品娱乐
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(21)申请号 CN201810069907.1 (22)申请日 2015.09.30 (71)申请人 株式会社岛津制作所

地址 日本国京都府京都市中京区西之京桑原町1番地

(10)申请公布号 CN108132320A

(43)申请公布日 2018.06.08

(72)发明人 丸山文隆;藤卷成彦

(74)专利代理机构 上海华诚知识产权代理有限公司

代理人 肖华

(51)Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

热裂解气相色谱质谱分析装置的校正方法

(57)摘要

本发明提供一种热裂解气相色谱质谱分析

装置的校正方法,最适宜用于热裂解气相色谱质谱分析装置的校准等,可以抑制参照物质的挥发,始终进行准确校准等。将在高分子材料构成的基材中以规定浓度均匀分散分析对象成分而成的材料形成片状,作为标准试样片(1),通过将该标准试样片(1)卷成辊状,即使标准试样片(1)中的分析对象成分具有挥发性,也可以抑制其挥发,采集标准试样时,通过使用微型穿孔机(2)等

开孔器对标准试样片(1)进行打孔,可以简单、迅速且高效的得到热裂解气相色谱质谱分析装置等的校准用标准试样。

法律状态

法律状态公告日

2018-06-08 2018-06-08 2018-07-03

法律状态信息

公开 公开

实质审查的生效

法律状态

公开 公开

实质审查的生效

权利要求说明书

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说明书

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