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专利名称：荧光X射线分析用样品保持器具及采用其的荧光X
射线分析方法和装置
专利类型：发明专利
发明人：森山孝男,井上未知子申请号：CN200480001034.7申请日：20040331公开号：CN1820195A公开日：20060816
摘要：一种荧光X射线分析用样品保持器具，该荧光X射线分析用样品保持器具用于对液体样品进行前处理，对含有成分进行荧光X射线分析，其包括环状的台座；厚度小于10μm的疏水性薄膜，该疏水性薄膜保持于上述台座上，具有周边部和用于使X射线透射的透射部；厚度在1～100μm的范围内的片状的液体吸收件，该液体吸收件贴付于该疏水性薄膜的透射部上；通过将上述液体样品下滴于该液体吸收件中，使其干燥，保持上述样品含有成分。
申请人：理学电机工业株式会社
地址：日本国大阪府
国籍：JP
代理机构：北京三幸商标专利事务所
代理人：刘激扬
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