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专利名称：一种基于微透镜阵列的光散射特性测量装置及方法专利类型：发明专利
发明人：曹兆楼,刘玉柱,李金花,咸冯林,裴世鑫申请号：CN201611120200.6申请日：20161208公开号：CN106596354A公开日：20170426
摘要：本发明提供一种基于微透镜阵列的光散射特性测量装置及方法，其中，所述装置包括照明模块、探测模块、半透半反棱镜、激光强度模块、升降机构、物镜、待测颗粒、样品池、上位机及运动控制器，其中，所述照明模块产生的激光通过所述半透半反棱镜进入所述物镜，并根据所述照明模块和所述物镜的位置关系，生成对应类型的光束；所述光束作用于位于所述样品池中的所述待测颗粒，生成后向散射光；所述后向散射光依次通过所述物镜和所述半透半反棱镜后进入所述探测模块；所述探测模块根据接收所述后向散射光的微透镜孔径，确定所述后向散射光对应的散射角度。本发明提供的一种基于微透镜阵列的光散射特性测量装置及方法，能够提高光散射特性测量的精度。
申请人：南京信息工程大学
地址：210044 江苏省南京市宁六路219号
国籍：CN
代理机构：南京钟山专利代理有限公司
代理人：戴朝荣
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